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| 考试内容范围: 一、X射线分析理论基础 1. 要求考生熟练掌握X射线物理学基础（X射线本质、X射线谱、X射线与物质相互作用）. 2. 要求考生理解X射线运动学衍射理论，能够运用Ewald图解进行衍射分析，会进行衍射强度的计算，熟悉倒易点阵 二、X射线衍射方法及衍射分析 1． 要求考生熟练掌握两种X射线衍射方法（粉末照相、多晶衍射仪法）. 2． 要求考生了解晶体取向的测定方法及分析步骤. 3． 要求考生能够进行点阵常数的测定. 4． 要求考生熟练掌握多晶体物相分析并进行相应的定量计算. 5． 要求考生熟练掌握宏观应力的测定. 三、TEM分析 1． 要求考生掌握电子与物质相互作用理论. 2． 要求考生熟练掌握TEM结构、原理、样品制备、金属薄膜的衍射分析（能够标定单晶体的衍射斑点）四、SEM分析 1. 要求考生了解扫描电镜的基本结构和工作原理 2. 要求考生熟练掌握扫描电镜在材料分析中的应用（表界面、断口分析）. 3. 要求考生熟练掌握波谱仪和能谱仪以及电子探针分析方法. 五、其它材料分析测试技术 1. 要求考生了解XPS分析、俄歇电子能谱分析、原子探针显微分析. 2. 要求考生了解核磁共振、电子自旋共振技术在材料分析中的应用. 3. 要求考生了解热分析技术 |
| 考试总分：100分 考试时间：2小时 考试方式：笔试考试题型： 计算题（10分）证明题（10分）简答题（20分）综合题（60分） |
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